B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。

BHAST高加速老化測試箱

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統是將被測元件放置于一定的環境溫度中,（環境溫度依據被測元件規格設定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統實時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據預先設定，當被測材料實時漏電流超出設定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護被測元件不被進一步燒毀。

BHAST高加速老化測試箱 特點：

每顆器件的Vgs獨立控制

實時監測每個試驗器件的Id、Ig

控制上、下電時序

全過程試驗數據保存于硬盤中，可輸出Excel

試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

漏電流超限保護，自動切斷測量回路

應用：

二極管，三極管，MOSFET，IGBT，SBD，GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。

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