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半導體芯片HAST測試高加速老化測試機
HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也 相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用的壓力蒸煮鍋試驗方法。
HAST高壓加速老化試驗箱HAST老化測試儀Burn-in Oven主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到模具/裝置上。
半導體芯片HAST測試高加速老化測試機
標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合guo家安全容器規范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩定性；
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數據、曲線導出保存。
Burn-in system
HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven可根據客戶產品定制專用產品架
半導體芯片HAST測試高加速老化測試機
1. IEC60068-2-66
2. JESD22-A102-B
3. EIAJED4701
4. EIA/JESD22
5.GB/T 2423.40-1997
半導體芯片HAST測試高加速老化測試機
溫度范圍：+105℃~+150℃
主機尺寸：970MM*710MM*1700MM(W*D*H)
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~10 0% 蒸氣濕度
濕度控制穩定度： ±3%RH
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內桶材質： SUS316#不銹鋼板
外箱材質： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護： 超壓保護，超溫保護，缺水保護等
水質要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
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