TS-780H熱流儀熱流罩在RF測試中的應用
在集成電路的RF射頻屏蔽高低溫測試。*的TS-780H高低溫熱流儀系統現在可以與射頻行業各類箱室進行配對,可以輕松地在受控的射頻環境中進行各種溫度下的IC測試。在不良溫度下的射頻測試不僅對半導體行業,而且對整個電子行業來說都是一個挑戰。
ThermoTST TS-780是一臺精密的高低溫沖擊熱流儀,具有更廣泛的溫度范圍-80℃到+225℃(箱室內溫度需根據容積/負載核算),DUT的功能可以確保箱體的溫度,提供溫度穩定性<±1°C;*的溫度轉換能力,溫度轉換從-55℃到+125℃之間轉換小于90秒(容積不同,轉換能力不同) ,熱流儀支持自動化編程使用。當Flex軟管和d箱室配對時,HEAD在一個RF射頻隔離的環境中,因為靈活的連接性,可以設計直接接觸到測試樣品。
TS-780H熱流儀熱流罩在RF測試中的應用
技術規格
型號 | TS-780H |
溫度范圍 | -80 oC 至 + 225 oC |
典型溫度轉換率 | -55 oC 至 + 125 oC 約10秒 |
溫控精度 | ± 1 oC |
顯示精度 | ± 0.1 oC |
出氣流量 | 4 ~24 SCFM(1.9 L/s ~ 11.3L/s) |
系統操作 | 高清彩色觸摸屏,10" TFT |
系統語言 | 中文/英文 |
操作模式 | 手動模式/程序模式 |