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微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估微波器件在一定的條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST

·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、  Ig

·控制上、下電時(shí)序

·全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中，  可輸出Excel

·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流  IR變化曲線

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST

適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。

驅(qū)動(dòng)檢測(cè)板 6塊（1塊驅(qū)動(dòng)板可帶2塊老化板）

電源 Vds：2臺(tái) ，

Vgs：正、負(fù)電源各2臺(tái)

二極Vgs電源 40路/板

試驗(yàn)容量 240顆（可以按要求定制工位）

老化實(shí)驗(yàn)板 專用耐高溫高濕基板、老化測(cè)試座，接口鍍金處理。

上位機(jī) 工業(yè)級(jí)電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)

聚焦超低溫，低溫，環(huán)境模擬，可靠性輔助測(cè)試解決方案

超過16年行業(yè)技術(shù)沉淀，掌握核心技術(shù)

多項(xiàng)技術(shù)，細(xì)分領(lǐng)域獨(dú)角獸

持續(xù)的創(chuàng)新產(chǎn)品和服務(wù)，為客戶提供更加滿意的體驗(yàn)

速度：1小時(shí)內(nèi)響應(yīng)，24小時(shí)內(nèi)提供實(shí)施方案。

專業(yè)：多名工程師與熱流儀Temperature Cycling System相伴10多年。

維修：原廠標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)。

料件：原廠品牌料件。

保障：提供交換式維修。

信息：設(shè)備檔案更新與備份，做客戶設(shè)備的管家。