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顆粒檢測進入“看得見“時代！ | 全球直播
無論是科學研究還是工業生產，顆粒的粒徑與形貌分布往往是決定材料性能與產品質量的關鍵因素。
不同于傳統的顆粒分析技術，圖像分析法正以其直觀、高效的特點，為顆粒分析注入嶄新的活力。無論您的樣品是懸浮液還是干粉，HORIBA 的圖像分析模塊都能自動化、精確地幫助您表征數以萬計的顆粒，輕松獲取微米至毫米級顆粒的尺寸與形貌信息。
想要深入了解這項技術的核心原理與實踐應用？本次線上講座特別邀請了 HORIBA 的顆粒表征專家 Jeff Bodycomb 博士，他將帶您走進圖像分析技術的奇妙世界。從基礎理論到實際操作，從案例分享到前沿探討，Jeff 博士將傾囊相授，讓您在短時間內系統掌握這項技術。
掃描下方二維碼，立即報名參加網絡研討會，3 月 14 日 1:30 至 2:30與 Jeff Bodycomb 博士一起探索顆粒世界的奧秘，開啟粒徑與形貌分布測定的新視野！
課程信息
課程名稱
圖像分析法實現顆粒粒徑與形貌的精準表征
講座時間
3 月 14 日 1:30-2:30(北京時間)
推薦參加人員
• 實驗室管理者
• 顆粒材料研發工程師
• 分析檢測人員
主講人
Jeff Bodycomb, Ph.D.
產品經理，HORIBA 顆粒表征專家
您將了解
• 什么是圖像分析？
• 圖像分析技術的工作原理
• 圖像分析技術有哪些限制？
• 圖像分析技術能幫您獲得什么？
報名方式
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