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HORIBA 科學儀器事業部

納米激光粒度儀遮光比的選取問題研究

時間:2022-7-22
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  在納米材料分析和研究中,通常是納米級(1至100nm)的超細顆粒。這些材料具有納米級的粒徑,因為它們具有較小的尺寸效應,量子尺寸效應,表面效應和宏觀量子隧穿效應,因此它們在常規材料,催化劑,非線性光學和磁性材料中未發現太多特性。因此,納米材料的粒度分析已經成為納米材料研究的重要方面。
 
  今天咱們來聊一聊使用納米激光粒度儀時遮光比的選取問題:
 
  遮光比就是在使用該儀器測試樣品時,配置的樣品懸浮液的濃度,遮光比的正確選擇是在粒度測試過程中的一個重要的步驟,遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴重關系到粒度測量結果的性和代表性。
 
  在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握,因此在實際的粒度測試中,通過調整遮光比的數值來盡量顆粒之間不發生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%),遮光比過大時,顆粒的濃度過高,容易發生二次散射,測量結果誤差增大;遮光比過低,樣品中顆粒的濃度太低,顆粒數太少,測試結果的代表性很差,甚至可能導致測試結果是無效的,因此在測試過程中,對遮光比的選取要通過反復試驗,以得到正確的測量結果。
 
  一般來說,對于比較粗的樣品,遮光比可以選擇的比較高,如20~30%,正常情況可以為10~25%;對于超細的樣品,可以適當降低樣品的遮光比,但一般不要超過40%,這些都是實驗得到的經驗數值,但終還需通過反復實驗,找到對應樣品測試時遮光比的合適數值。

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