1）精煉的全新設計：在提高機械和電氣穩定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經驗，對電鏡整體進行了精煉全新設計，力求為用戶提供全新感受；

    2) 四級聚光鏡設計：為了*大程度發揮出STEM功能，JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計，亮度和匯聚角可以分別控制；

    3）優異掃描系統：在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；

    4）皮米樣品臺控制：標配的壓電陶瓷控制樣品臺，可以在原子尺度上獲得精準的移動；

    5）全自動裝樣測角臺（SPECPORTER）：樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現，彰顯其便利性及安全性；

    6）成熟的冷場發射技術：將JEOL應用在球差校正技術上的優異冷場發射技術移植到普通的場發射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態分析；

    7）雙超級能譜設計：可安裝雙超級能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；

    8）節能減排：啟用省電模式耗電量降低80%。