一、產品簡介
XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化 學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前技術，多年研究開發的結果，在國內享有本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
二、技術指標
1.顯微鏡技術參數:
名稱 | 規格 |
總放大倍數： | 40X---630X |
無應力消色差物鏡 | 4X/0.1 |
10X/0.25 | |
25X/0.40 | |
40X/0.65 彈簧 | |
63X/0.85 彈簧 | |
目鏡 | 10X 十字目鏡 |
10X 分劃目鏡 | |
試片 | 石膏 1λ 試片 |
云母 1/4λ 試片 | |
石英楔子試片 | |
測微尺 | 0.01mm |
濾色片 | 藍色 |
帶座目鏡網絡尺 | |
移動尺 | 移動范圍 30mm×40mm |
鏡筒 | 三目觀察 |
熱臺組成 | 性能 |
顯微精密控溫儀 | 在 20倍物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數 |
顯微加熱平臺 | 可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 · 起始溫度室溫 ·工作區加熱使用面積至少 1X1厘米 ·工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 ·透光區域 2mm以上，可調 ·顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 ·熱臺可以隨載物臺移動 在加熱狀態下可使用 20倍物鏡 |
注意： 熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離 太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡） | |
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